セファロ分析について

こんにちは

 

名駅アール歯科・矯正歯科です。

 

本日は『セファロ分析』についてお話していきます。

 

❝セファロ分析とは❞

セファロ分析とは全世界で同じ規格で撮影するエックス線写真(レントゲン写真)を分析することを言います。

このエックス線写真(レントゲン写真)のことを、セファログラムと言います。

セファログラムは、側方頭部エックス線規格写真とも呼ばれます。

 

セファロは次のような規格が定められています。

・エックス線を照射する場所から被写体までの距離

・被写体からフィルムまでの距離

・エックス線を照射する場所からフィルムまでの距離

この3つの事が定められています。

(第3版 歯科矯正学より)

 

❝セファロ分析の分析法❞

セファロ分析の方法は様々あります。有名な分析法は

・Downs法

フランクルと平面を基準面として、骨格的な評価と歯の分析の2つに分けて評価する分析方法です。

・Northwestern法

Downs法と同様に骨格的な評価と歯の分析の2つに分けて分析する方法です。

大きな違いとしては、基準平面がSN平面です。

・Tweed法

フランクフルト平面、下顎中切歯の歯軸、下顎下縁平面からできる三角形の角度を分析する方法です。

 

下顎下縁平面とフランクフルト平面のなす角度・・・FMA

下顎中切歯とフランクフルト平面のなす角度・・・FMIA

下顎中切歯と下顎下縁平面のなす角度・・・IMPA

この3個の角度の基準値が、FMAが25度、FMIAが65度、IMPAが90度となる事を理想としています。

など分析の方法はとてもたくさんあります。

 

セファロ分析の計測点について

S・・・トルコ鞍の中心

N・・・鼻前頭縫合の前方限界点

Po・・・骨外耳道上縁点

Or・・・眼窩下縁でFHplaneに接する点

PNS・・・後鼻棘最後方点

ANS・・・前鼻棘の尖端

A・・・前鼻棘と上顎歯槽縁間の正中矢状断面上の最深部

Ar・・・下顎枝と後頭骨基底部下縁の交点

B・・・下顎結合部の全縁と下顎歯槽縁間の正中矢状断面上の最深点

Me・・・下顎結合部の正中矢状断面上の最下方点

Go・・・下顎下線平面と下顎枝口縁平面のなす角の2線が下顎角部と交わる点

Pog・・・下顎結合部最突出点

Gn・・・Facalplaneと下顎下縁平面のなす角の2線が下顎結合部で交わる点

U1・・・上顎中切歯の切縁

L1・・・下顎中切歯の切縁

Cd・・・下顎頭最上後方点

CdE・・・下顎頭最後方点

Ba・・・後頭骨の大後頭孔を形成する部分の前下縁

SN・・・鼻下点

 

これらの計測点は一部で、他にも様々な計測点があります。

 

セファロ分析における基準平面

SN平面・・・SとNを結んだ直線

FH・・・OrとPoを結んだ直線

顔面平面・・・NとPogを結んだ直線

口蓋平面・・・ANSとPNSを結んだ直線

咬合平面・・・上下顎中切歯尖端の中点とMoを結んだ直線

下顎下縁平面・・・Meから下顎下縁に引いた接線

下顎後縁平面・・・Arから下顎角後縁部に引いた接線

 

≪まとめ≫

いかがでしたか?

本日はセファロ分析の重要性や細かいところを解説しました。

セファロ分析は、矯正治療には欠かせないものです。

歯列矯正で後悔しないためにもしっかりとセファロ分析を行っているところで矯正を行いましょう。